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Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic and atomic forces

Sarid, Dror

New York ; Oxford : University Press, copyr. 1994

Disponibile in Biblioteca Polo Scientifico e Tecnologico  Area Tecnologica  39USA_INST:2160289080003316()

  • Titolo:
    Scanning force microscopy : with applications to electric, magnetic and atomic forces
  • Autore: Sarid, Dror
  • Editore: New York ; Oxford : University Press
  • Anno: 1994
  • Soggetti: analisi microscopica
  • Classe Dewey: 502.82 - Microscopia
  • Lingua: Inglese
  • Tipo: Libro
  • Identificativo: ISBN: 0-19-509204-X

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